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我司將參展“第十五屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2013)”
聚光 發(fa)布時間:2014-10-10 聚光 來(lai)源(yuan): 聚光 瀏覽量:1642

  2013年10月23—26日,由中(zhong)華(hua)人民共和國(guo)科學(xue)技術(shu)部批準、中(zhong)國(guo)分析測試協(xie)會主辦的(de)“第(di)十五(wu)屆北京分析測試學(xue)術(shu)報告會暨展覽會(BCEIA2013)”將在(zai)北京展覽館召(zhao)開。

  BCEIA由(you)中華人民(min)共(gong)和國科學技(ji)術部批準,中國分(fen)(fen)析測試協會(hui)主辦,從1985年(nian)開始,每兩年(nian)舉辦一次(ci),26年(nian)來已(yi)經連續(xu)成功舉辦了十(shi)四(si)屆(jie)。BCEIA已(yi)成為(wei)國內最具影響力的專業性分(fen)(fen)析測試儀(yi)器(qi)展(zhan)覽會(hui)之一,并在在國外享有較高的聲(sheng)譽。本屆(jie)BCEIA2013學術報(bao)告(gao)會(hui)會(hui)議主題為(wei)“分(fen)(fen)析科學創新未來”,由(you)大會(hui)報(bao)告(gao)、分(fen)(fen)會(hui)報(bao)告(gao)、應(ying)用技(ji)術報(bao)告(gao)會(hui)共(gong)同(tong)組成。展(zhan)會(hui)同(tong)期還將進(jin)行BCEIA獲獎產品頒獎儀(yi)式等(deng)一系列活動。

  此次分析(xi)(xi)(xi)(xi)測試領域的專業盛會,我司(si)將(jiang)以“科技創造美好生活”為展示主題,分設(she)(she)綜述、有(you)機(ji)分析(xi)(xi)(xi)(xi)、無機(ji)分析(xi)(xi)(xi)(xi)、近紅外(wai)四大展區(qu),另設(she)(she)活動專區(qu)。屆(jie)時我司(si)將(jiang)集中展示臺式GC-MS  便攜GC-MS、 LC-MSMS、ICP-OES(BCEIA2013金獎評選產品)、近紅外(wai)系列(lie)(便攜、臺式)等(deng)實驗室分析(xi)(xi)(xi)(xi)領域的最新技術及產品。

 

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